Dyfraktometr laserowy HELOS

HELOS

Dyfrakcja laserowa, wśród metod optycznych, jest najlepiej rozpoznawalną techniką pomiaru wielkości czastek. Dyfraktometr (granulometr) laserowy HELOS/R dostępny jest w trzech wersjach:

  • HELOS/BR o zakresie pomiarowym od 0,1 µm do 875 µm
  • HELOS/KR o zakresie pomiarowym od 0,1 µm do 8 750 µm
  • HELOS-VARIO/KR o zakresie pomiarowym od 0,1 µm do 8 750 µm z rozszerzaną strefą pomiarową, dedykowany do pomiarów aerozoli.
Zapytaj o produkt

Wszystkie czujniki pomiarowe rodziny HELOS/R wykorzystują spójne światło lasera o równoległej wiązce. Pojedynczy, półkolisty detektor pozwala na precyzyjny odczyt intensywności światła odchylonego przez cząstki. Takie rozwiązanie eliminuje konieczność matematycznej obróbki danych pochodzących od światła rozproszonego lub odbitego. Możliwość stosowania w trakcie pomiaru jednego z ośmiu modułów optycznych pozwala na wykorzystanie pełnej rozdzielczości detektora w zakresie analizowanych wielkości cząstek. W konsekwencji możemy zapewnić niezrównaną powtarzalność pomiarów. Technologia łączenia zakresów umożliwia analizę wielkości cząstek o szerokiej dystrybucji z zachowaniem wysokiej rozdzielczości pomiaru dla miałkiej frakcji.

Badane produkty wprowadzane są do strefy pomiarowej z  pomocą różnych jednostek dyspersji zapewniających właściwe rozproszenie aglomeratów każdej analizowanej substancji. Czujnik HELOS umożliwia badanie sprejów i inhalatorów dzięki odpowiednimi systemom dozowania. Umożliwia także zaadoptowanie innych podajników.

czujnik:

HELOS BR: 0.1 µm – 875 µm
KR: 0.1 µm – 8750 µm
VARIO/KR: 0.1 µm – 8750 µm

zasada działania:

dyfrakcja laserowa λ = 632,8 nm

dyspersja:

adaptowane moduły powietrzna, spreje
zawiesiny, emulsje

pomiar:

wieloelementowy detektor
częstotliwość
31 półkolistych elementów
2000/s, ciągłe ogniskowanie

obliczenia:

Fraunhofer
FREE
Mie jako opcja
MIEE (opcja)

zakresy:

moduły pomiarowe R1 do R8

możliwości:

powtarzalność
porównywalność
x10, x50, x90
s<0,04% (powtórzona próbka)
s<0,3% (próbka po podziale)
/Dx/<2,5% wzg. max odchylenie
<5% wzg. odchyl. zakres submikronowy

system:

program  WINDOX, PAQXOS WINDOWS 7, 10/VistaProf. / XP Prof.

właściwości:

moc lasera
klasa ochrony/typ
średnica promienia lasera
5 mW
3A/IP40
R1&R2: 2,2 mm
R3 – R5:  13 mm
R6&R7:   26 mm
R8:         35 mm

system jakości:

certyfikacja
materiał referencyjny

walidacja

standardowa procedura
SiC – F1200 (x50 = 4,5 μm)
SiC – P600 (x50 = 27 μm)
SiC – P80 (x50 = 260 μm)
SiC – P50 (x50 = 430 μm)
zaaprobowana przez FDA

 

HELOS czujnik: zakresy pomiarowe R1 – R8

 

HELOS BR

HELOS KR / VARIO

R1: 0,1/0,18 – 35 μm

R1: 0,1/0,18 – 35 μm

R2: 0,25/0,45 – 87,5 μm

R2: 0,25/0,45 – 87,5 μm

R3: 0,5/0,9 – 175 μm

R3: 0,5/0,9 – 175 μm

R4: 0,5/1,8 – 350 μm

R4: 0,5/1,8 – 350 μm

R5: 0,5/4,5 – 875 μm

R5: 0,5/1,8 – 875 μm

R6: 0,5/9 – 1750 μm

R7: 0,5/18 – 3500 μm
R8: 0,5/45 – 8750 μm